近日，西安光机所光电子学研究室成功研制宽光谱全天时光学成像测试系统，该系统可同时在可见光与红外波段对光电器件进行测试，实现了在宽光谱全天时测试标定领域的技术突破。
当前，由于单一光学测试标定设备只可实现特定波段的测试标定任务，针对不同的测试要求与测试目标，需要多套标定设备对光电器件反复测试标定。宽光谱全天时光学成像测试系统光谱响应范围宽、光照度跨越范围大，使得利用单套硬件系统同时实现多指标、宽光谱、全天时测试标定成为现实。其光谱响应范围覆盖可见光至远红外波段(0.4~14微米)，光照度跨越8个数量级(10-4~104勒克斯)，像平面尺寸大于26mm×20mm，可见光光学分辨率优于5μm，在实现核心技术攻关的同时，有效填补了大动态范围内同时实现可见、红外成像系统标定的技术空白，可广泛适用于可见、红外波段大动态范围成像器件的测试标定。
该系统于近期组织完成了结题评审及现场测试，会议邀请了西安工业大学、西安交通大学、北方夜视技术股份有限公司、中国科学院国家授时中心等单位的多位专家参加。与会专家对该系统宽光谱、大动态范围等测试标定能力做出肯定，经现场演示验证后通过专家及用户的测试评审验收。
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