作者:何端鹏, 于翔天, 王向轲, 邢 焰, 高 鸿, 李 岩
作者单位:中国空间技术研究院材料可靠性中心,北京 100094
关键词:微纳尺度; 晶体材料; 热膨胀系数; XRD
摘要:
为解决微纳尺度晶体材料膨胀系数无法直接测量的现状,文章提出一种适用的测试思路及计算方法。该方 法基于材料在不同温度下的 XRD 衍射图谱获得晶胞晶格常数,通过“晶格常数-温度”拟合,计算各个物相晶轴的线 膨胀系数,进一步计算获得材料的体膨胀系数。采用该方法对单相高锡焊料及多相 PbSn 合金焊球进行测试,获取 其体膨胀系数,证实方法有效可行。该方法能够实现微纳尺度试样的体膨胀系数的测定,包括产品微构件、薄膜材 料、电子元器件用引线及焊料等材料,具有对试样要求低、操作简单、表征高效的特点,为微纳晶体材料热膨胀系数 的测定提供新思路,具有较强的应用价值。