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基于层次聚类的平面阵列电容聚焦成像方法

948    2023-03-23

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作者:张立峰, 张博雄

作者单位:华北电力大学自动化系,河北 保定 071003


关键词:聚焦成像;层次聚类算法;缺陷图像重建;平面阵列传感器


摘要:

为减少平面阵列电容成像过程中的无效数据,提出一种基于层次聚类的平面阵列电容聚焦成像方法。根据平面阵列电极电容数据的特点,利用层次聚类算法对电容数据进行分类,根据分类结果将电极分为无效电极和有效电极,并进一步确定感兴趣区域,利用有效电极产生的电容值进行电容成像,从而达到减少无效数据,提高计算效率,加快图像重建速度的目的。对绝缘材料进行缺陷探测的仿真实验,结果表明:数据优化之后得到的重建图像与数据优化之前得到的重建图像相比,在减少数据量加快图像重建速度的同时,可保证图像重建的精度。


Planar array capacitance focusing imaging method based on hierarchical clustering
ZHANG Lifeng, ZHANG Boxiong
Department of Automation, North China Electric Power University, Baoding 071003, China
Abstract: In order to reduce the amount of invalid data in the process of planar array capacitance imaging, a planar array capacitance focusing imaging method based on hierarchical clustering is proposed. According to the characteristics of planar array electrode capacitance data, the hierarchical clustering algorithm is used to classify the capacitance data. According to the classification results, the electrode is divided into invalid electrode and effective electrode, and the region of interest is further determined. The capacitance value generated by the effective electrode is used for capacitance imaging, so as to reduce the invalid data, improve the calculation efficiency and speed up the image reconstruction. The simulation experiment of defect detection for an insulating material shows that the reconstructed image obtained after data optimization can reduce the amount of data, accelerate the speed of image reconstruction and ensure the accuracy of image reconstruction compared with the reconstructed image obtained before data optimization.
Keywords: focused imaging;hierarchical clustering algorithm;defect image reconstruction;planar array sensor
2023, 49(3):1-7  收稿日期: 2021-06-18;收到修改稿日期: 2021-09-11
基金项目: 国家自然科学基金(61973115)
作者简介: 张立峰(1979-),男,江西抚州市人,副教授,博士,主要从事多相流检测及电学层析成像技术方面的研究工作
参考文献
[1] 杨杰, 隋学叶, 刘瑞祥, 等. 航天飞机及高超飞行器用刚性隔热材料研究进展[J]. 现代技术陶瓷, 2015, 36(3): 25-29
[2] 杨乃宾. 新一代大型客机复合材料结构[J]. 航空学报, 2008(3): 596-604
[3] 贾宝栋. 无损检测技术在复合材料缺陷检测中的应用分析[J]. 冶金与材料, 2021, 41(1): 80-81
[4] 张立峰, 宋亚杰. 基于梯度投影稀疏重建算法的电容层析成像图像重建[J]. 计量学报, 2019, 40(4): 631-635
[5] 许维蓥, 谢烁熳, 洪晓斌. 基于ECT的聚合物锂电池组内部电容率检测装置设计[J]. 中国测试, 2018, 44(1): 74-79
[6] 马敏, 郭鹏飞, 董永智. 基于双平面电容传感器的复合材料缺陷检测[J]. 计算机应用与软件, 2021, 38(1): 82-86
[7] 王挺, 范文茹, 郝魁红, 等. 平面式电容传感器阵列激励模式研究[J]. 传感器与微系统, 2012, 31(9): 71-74
[8] 范文茹, 董永智. 面向CFRP板材的平面式电容传感器设计优化[J]. 仪器仪表学报, 2020, 41(7): 63-71
[9] 温银堂, 曹鹏鹏, 田洪刚, 等. 基于FCM优化的平面阵列电容成像算法[J]. 计量学报, 2020, 41(2): 231-237
[10] 张玉燕, 任萍, 王震宇, 等. 基于平面电容层析成像的复合材料无损检测灵敏度矩阵[J]. 无损检测, 2018, 40(11): 45-49
[11] 代守强, 陈棣湘, 田武刚, 等. 平面电容传感器热障涂层缺陷检测系统[J]. 中国测试, 2017, 43(1): 78-83
[12] 张立峰, 蒋玉虎. 电容层析成像三维图像重建研究[J]. 计量学报, 2019, 40(3): 462-465
[13] SUMIT G, KIM H, KENNETH J L, et al. Planar capacitive imaging for composite delamination damage characterization[J]. MeasuremenScienceand Technology, 2021, 32(2): 024010
[14] YE Z, BANASIAK R, SOLEIMANI M. Planar array 3D electrical capacitance tomography[J]. INSIGHT, 2013, 55(12): 675-680
[15] 马敏, 邓晨肖, 吴轲. 平面阵列电容传感器优化[J]. 传感器与微系统, 2020, 39(3): 25-29