作者：刘勇, 黄劼, 李扬扬, 郑路遥, 杨府

作者单位：四川大学制造科学与工程学院, 四川成都 610065

关键词：CCD器件; 尺寸测量; 误差分析; 图像处理; 阈值

摘要：

针对我国大多数锻件生产厂测量锻件技术落后,测量环境恶劣,人工测量误差较大的现状,分析了基于CCD器件尺寸测量的原理,提出了一种运用数字图像处理的非接触在线测量锻件尺寸的方案,同时运用高级语言编写系统软件,并分析了该方案测量误差的计算方法。实验结果表明该方案价格低廉,操作简单,适应性广且测量结果能达到实际要求。

Research of on-line non-contact geometry measurement system for large forging parts

LIU Yong, HUANG Jie, LI Yang-yang, ZHENG Lu-yao, YANG Fu

School of Manufacturing Science and Engineering, Sichuan University, Chengdu 610065, China

Abstract: In our country, the measurement technology of forging parts in most of forging plants is poorly developed, its measurement environments are harmful, and the artificial measurements cause great errors. When these are taken into consideration, an on-line non-contact geometry measurement scheme was proposed with the digital image process technology according to the principle of size measurement based on the CCD(Charge Coupled Devices). The software system was written by senior language, at the same time the calculation of the error produced in this scheme was analyzed. The experimental results showed that this system was cheap, its operation was easy, it had wide adaptability, and the measurement results could fulfill the actual requirements.

Keywords: CCD; Size measurement; Error analysis; Image process; Threshold

2008, 34(5): 116-118  收稿日期: 2008-6-16;收到修改稿日期: 2008-8-25

基金项目: 

作者简介: 刘勇(1984-),男,陕西乾县人,硕士研究生,专业方向为数字图像处理。

参考文献

[1] 郁有文, 常健编.传感器原理及工程应用[M].西安:西安电子科技大学出版社, 2000.
[2] 陆艺. 图像处理技术在机动车检测行业中的应用[J]. 中国测试技术, 2003, 11(6):36-37.
[3] 李浩宇. 基于线阵CCD的高精度测量系统设计及测隙测径方法研究[D].硕士论文.长沙:中南大学, 2005.
[4] 蔡文贵.CCD技术及应用[M]. 北京:电子工业出版社, 1999.
[5] 吴玉莲.图像处理的中值滤波方法及其应用[D].西安:西安电子科技大学, 2006.
[6] 廖强, 周忆, 米林, 等.机器视觉在精密测量中的应用[J].重庆大学学报, 2002, 25(6):1-4.
[7] 贾云得.机器视觉[M].北京:科学出版社, 2000.
[8] 董斌, 杨韧, 刘兴占, 等.一种使用线阵型CCD实现高精度二维位置测量的方法[J]. 光学技术, 1998(5):42-45.
[9] 冯永强.图像边缘信息处理技术研究及应用[D].大庆:大庆石油学院, 2007.
[10] 刘博, 仲思东.一种基于自适应阈值的SUSAN角点提取方法[J], 红外技术, 2006, 28(6):331-333.
[11] 李云飞. 用面阵CCD高精度测量微光光场均匀性[J]. 中国测试技术, 2003, 3(2):20-21.
[12] 达选福, 张伯珩, 边川平. 高速CCD图像数据存储技术[J].光子学报, 2003, 32(11):1393-1395.