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电子产品高温试验箱的温度场分析及优化

3183    2019-12-19

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作者:孙   琦, 于兰英, 吴文海

作者单位:西南交通大学机械工程学院,四川 成都 610031


关键词:高温试验箱; 热分析; 热测试; 温度均匀性


摘要:

环境应力筛选是电子产品生产过程中非常重要的环节,能激发并排除早期故障,而高温测试箱在此环节起着至关重要的作用,其性能好坏直接影响电子产品可靠性。现有的高温试验箱内部温度梯度较大,无法满足试验箱温度均匀的条件,会导致测试结果不准确,此外,加热时间较长,严重影响试验工作效率。结合西门子公司要求,文章以改善高温试验箱温度场分布、缩短加热时间为主要研究目标,首先利用流体仿真软件 Fluent 对现有高温试验箱进行温度场分析,再通过试验验证仿真的可靠性,并基于最后建立的仿真模型进一步提出环境试验箱的优化方案。结果表明,通过优化,将高温试验箱温度偏差从±4 ℃ 优化至±2 ℃,有效提高高温试验箱温度均一性,加热时间从70 min 减少至 25 min,加热速率提升一倍,为电子产品高温试验提供更完善的的试验环境。