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一种基于特征的LED晶元自动定位与检测方法

摘要:

目的:人工检测晶元焊接质量时存在错误率高、效率低下等问题,因此采用数字图像技术实现晶元的定位与检测。方法:根据待测零件的特点,提出了一种基于特征的晶元自动定位与检测方法。结果:通过阈值分割提取特征,利用特征的几何关系实现图像中晶元组的定位,利用晶元在晶元组的几何关系和图像分割技术实现晶元的定位与检测,最后将图像中的晶元组按照一定顺序拼接成完整的零件图形,显示检测结果。结论:该算法效率高,161个晶元定位用时不到1 s,定位与检测的用时12.4 s,检测效果好,已成功用于实际生产。  

关键词: 晶元定位; 阈值分割; 图像拼接;

作者: 陈自立,刘红林,

作者单位: 中国计量大学光学与电子科技学院

刊名: 《中国计量大学学报》

Journal: Journal of China University of Metrology

年,卷(期): 2020, (4)

在线出版日期: 2020年12月15日

页数: 6

页码: 437-441,481